光電測試係統

測試係統

Inframet是全球能夠提供用於測試所有類型的光電成像係統和激光係統（紅外熱成像儀，夜視設備，VIS-NIR相機（CCD / CMOS / ICCD / EBAPS）相機） ，SWIR相機，UV相機，激光測距儀，激光指示器，激光照明器，激光指示器，多探測器監控係統，融合圖像相機）和此類係統的模塊（圖像增強器，IR FPA傳感器，CCD / CMOS / EBAPS探測器， 條紋管，離散紅外探測器）。 請查看專門針對不同類型的光電成像係統和模塊的章節中的詳細信息。 我們的研發及製造能力使Inframet能夠提供針對潛在客戶的特定需求而優化的各種測試係統。

紅外熱成像儀	VIS-NIR相機	夜視設備	SWIR相機
激光係統	軸對準	多探測器係統	融合圖像相機
紫外相機	太赫茲相機	圖像增強器	條紋管
VIS-SWIR FPA探測器	IR FPA傳感器	離散探測器	光學模塊

根據提供的測試設備的複雜程度，Inframet建議一般可分為三組：

• 單一光電設備的測試係統

• 多套光電設備的測試係統

• 光電設備的計量測試係統

單一光電設備的測試係統（例如用於測試紅外熱成像儀的DT係統）被認為是簡單的情況。 我們絕大多數的訂單都屬於這個類型。 但是，我們所有的測試係統都可以提供一係列不同技術複雜程度的版本。 因此，在該組中可以找到用於測試短焦距紅外熱像儀的相對低成本的測試係統以及用於測試長焦空間應用紅外熱像儀的昂貴的複雜的測試係統。

多套光電設備的測試係統通常適用於光電係統的大型生產商或者維修保養車間，滿足其對於一係列的光電係統測試要求而隻選用單一的測試設備用於光電係統的測試及計量。

光電設備的計量測試係統是Inframet可以執行的訂單。在這種情況下，Inframet提供的測試所有光電設備的測試係統需要具備校準和如何使用現有的本地計量中心進行再校準校的能力。通過這種方式，客戶所在地區實現了測試光電設備計量級別的能力，而不依賴於外部的機構。

聯係指南

                      因產品特殊性，請您直接致電或者郵件聯係詢問您的測量需求，感謝您的關注與支持